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Plasmatexturierung von Silizium als Alternative zur nasschemischen Texturierung und prozessintegrativer Einfluss auf die Passivierungsbeschichtung

  • J. Hirsch, M. Gaudig, M. Gläser, S. Großer, N. Bernhard, D. Lausch: Optimized SiN surface passivation of maskless Inductively Coupled Plasma (ICP) formed Black-Silicon without additional Self-Bias, Proc. 31st EUPVSEC (2015)